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加快打造原始創(chuàng)新策源地，加快突破關(guān)鍵核心技術(shù)，努力搶占科技制高點(diǎn)，為把我國建設(shè)成為世界科技強(qiáng)國作出新的更大的貢獻(xiàn)。

——習(xí)近平總書記在致中國科學(xué)院建院70周年賀信中作出的“兩加快一努力”重要指示要求

面向世界科技前沿、面向經(jīng)濟(jì)主戰(zhàn)場、面向國家重大需求、面向人民生命健康，率先實(shí)現(xiàn)科學(xué)技術(shù)跨越發(fā)展，率先建成國家創(chuàng)新人才高地，率先建成國家高水平科技智庫，率先建設(shè)國際一流科研機(jī)構(gòu)。

——中國科學(xué)院辦院方針

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金屬所等實(shí)現(xiàn)晶界三維原子結(jié)構(gòu)成像

2020-12-09 金屬研究所

【字體：大中小】

語音播報(bào)

　　目前，傳統(tǒng)透射電子顯微技術(shù)（包括透射成像或掃描透射成像）可以對百納米厚度的樣品進(jìn)行形貌和原子結(jié)構(gòu)的投影成像。盡管像差校正技術(shù)已將透射電鏡的分辨率提高到亞埃尺度，但二維投影包含的有限性信息極易使人們對材料真實(shí)三維結(jié)構(gòu)的認(rèn)識產(chǎn)生偏差甚至誤解。因此，通過三維成像直接從納米，甚至原子尺度解析材料的三維結(jié)構(gòu)變得尤為重要。電子層析三維重構(gòu)技術(shù)（Electron Tomography）是電子顯微術(shù)與計(jì)算機(jī)圖像處理相結(jié)合而形成的一門具有重要應(yīng)用前景的新技術(shù)。近年來，隨著電子顯微鏡、計(jì)算機(jī)技術(shù)和圖像處理算法的發(fā)展，電子層析三維重構(gòu)技術(shù)在生物、化學(xué)和材料科學(xué)等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。

　　近日，中國科學(xué)院金屬研究所沈陽材料科學(xué)國家研究中心材料結(jié)構(gòu)與缺陷研究部杜奎課題組與合作者實(shí)現(xiàn)了原子分辨率電子層析三維重構(gòu)技術(shù)，并解析了金屬晶界的三維原子結(jié)構(gòu)，包括大角的結(jié)構(gòu)單元型晶界和小角的位錯(cuò)型晶界。相關(guān)研究結(jié)果以Three-Dimensional Atomic Structure of Grain Boundaries Resolved by Atomic-Resolution Electron Tomography為題，發(fā)表在Matter上。

　　與傳統(tǒng)研究中普遍認(rèn)為的晶界具有一維平移周期性不同，該研究表明實(shí)際晶體材料中大角晶界的結(jié)構(gòu)單元在三維空間不具有平移周期性。晶界原子配位數(shù)分析與曲率分布表明大角晶界的結(jié)構(gòu)單元分布與晶界局部曲率有關(guān)。小角晶界的三維重構(gòu)結(jié)果表明晶界位錯(cuò)形成了大量割階和扭折。從三維原子尺度對割階和扭折直接成像，從實(shí)驗(yàn)上證實(shí)了半個(gè)多世紀(jì)前理論上提出的位錯(cuò)割階和扭折模型?；诰Ы缭幼鴺?biāo)，可以同時(shí)獲得晶界的晶體學(xué)信息與三維原子結(jié)構(gòu)，由此可全面解析晶界結(jié)構(gòu)信息。通過電子層析三維重構(gòu)技術(shù)獲得的晶界三維原子結(jié)構(gòu)，為后續(xù)晶界實(shí)驗(yàn)研究與計(jì)算模擬提供了重要參考，并推動(dòng)晶界結(jié)構(gòu)與行為、晶界-位錯(cuò)交互作用的研究。

　　研究工作得到國家自然科學(xué)基金、國家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃等的資助。

　　論文鏈接

圖1.雙晶及多晶金屬的原子分辨率電子層析三維重構(gòu)

圖2.大角晶界（結(jié)構(gòu)單元型晶界）的三維原子結(jié)構(gòu)、晶界原子配位數(shù)與結(jié)構(gòu)單元組態(tài)分析

圖3.小角晶界（位錯(cuò)型晶界）的三維原子結(jié)構(gòu)、晶界位錯(cuò)的扭折和割階組態(tài)及行為

　　晶界作為材料中廣泛存在的重要缺陷，它的結(jié)構(gòu)和行為很大程度上決定了多晶材料的物理、化學(xué)和力學(xué)性能。晶界結(jié)構(gòu)和行為的研究一直是材料科學(xué)的研究焦點(diǎn)之一。雖然透射電子顯微技術(shù)的發(fā)展已將材料研究推進(jìn)到亞埃尺度，但是由于晶界結(jié)構(gòu)本身的復(fù)雜性以及傳統(tǒng)透射電鏡二維投影成像模式的限制，人們對實(shí)際晶體材料中的晶界結(jié)構(gòu)的認(rèn)知極其有限。因此，從實(shí)驗(yàn)上實(shí)現(xiàn)晶界三維原子結(jié)構(gòu)成像對深入認(rèn)識晶界具有重要意義。
　　目前，傳統(tǒng)透射電子顯微技術(shù)（包括透射成像或掃描透射成像）可以對百納米厚度的樣品進(jìn)行形貌和原子結(jié)構(gòu)的投影成像。盡管像差校正技術(shù)已將透射電鏡的分辨率提高到亞埃尺度，但二維投影包含的有限性信息極易使人們對材料真實(shí)三維結(jié)構(gòu)的認(rèn)識產(chǎn)生偏差甚至誤解。因此，通過三維成像直接從納米，甚至原子尺度解析材料的三維結(jié)構(gòu)變得尤為重要。電子層析三維重構(gòu)技術(shù)（Electron Tomography）是電子顯微術(shù)與計(jì)算機(jī)圖像處理相結(jié)合而形成的一門具有重要應(yīng)用前景的新技術(shù)。近年來，隨著電子顯微鏡、計(jì)算機(jī)技術(shù)和圖像處理算法的發(fā)展，電子層析三維重構(gòu)技術(shù)在生物、化學(xué)和材料科學(xué)等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。
　　近日，中國科學(xué)院金屬研究所沈陽材料科學(xué)國家研究中心材料結(jié)構(gòu)與缺陷研究部杜奎課題組與合作者實(shí)現(xiàn)了原子分辨率電子層析三維重構(gòu)技術(shù)，并解析了金屬晶界的三維原子結(jié)構(gòu)，包括大角的結(jié)構(gòu)單元型晶界和小角的位錯(cuò)型晶界。相關(guān)研究結(jié)果以Three-Dimensional Atomic Structure of Grain Boundaries Resolved by Atomic-Resolution Electron Tomography為題，發(fā)表在Matter上。
　　與傳統(tǒng)研究中普遍認(rèn)為的晶界具有一維平移周期性不同，該研究表明實(shí)際晶體材料中大角晶界的結(jié)構(gòu)單元在三維空間不具有平移周期性。晶界原子配位數(shù)分析與曲率分布表明大角晶界的結(jié)構(gòu)單元分布與晶界局部曲率有關(guān)。小角晶界的三維重構(gòu)結(jié)果表明晶界位錯(cuò)形成了大量割階和扭折。從三維原子尺度對割階和扭折直接成像，從實(shí)驗(yàn)上證實(shí)了半個(gè)多世紀(jì)前理論上提出的位錯(cuò)割階和扭折模型。基于晶界原子坐標(biāo)，可以同時(shí)獲得晶界的晶體學(xué)信息與三維原子結(jié)構(gòu)，由此可全面解析晶界結(jié)構(gòu)信息。通過電子層析三維重構(gòu)技術(shù)獲得的晶界三維原子結(jié)構(gòu)，為后續(xù)晶界實(shí)驗(yàn)研究與計(jì)算模擬提供了重要參考，并推動(dòng)晶界結(jié)構(gòu)與行為、晶界-位錯(cuò)交互作用的研究。
　　研究工作得到國家自然科學(xué)基金、國家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃等的資助。
　　論文鏈接
　　圖1.雙晶及多晶金屬的原子分辨率電子層析三維重構(gòu)
　　圖2.大角晶界（結(jié)構(gòu)單元型晶界）的三維原子結(jié)構(gòu)、晶界原子配位數(shù)與結(jié)構(gòu)單元組態(tài)分析
　　圖3.小角晶界（位錯(cuò)型晶界）的三維原子結(jié)構(gòu)、晶界位錯(cuò)的扭折和割階組態(tài)及行為
　　

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